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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m21b.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador8JMKD3MGP3W34P/3MRJP2L
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m21b/2016/11.22.18.12   (acesso restrito)
Última Atualização2016:11.22.18.12.11 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m21b/2016/11.22.18.12.11
Última Atualização dos Metadados2018:06.04.02.41.21 (UTC) administrator
DOI10.1063/1.4964610
ISSN2166-532X
Chave de CitaçãoFornariRaMoPeBeReAb:2016:PrPrBi
TítuloPreservation of pristine Bi2Te3 thin film topological insulator surface after ex situ mechanical removal of Te capping layer
Ano2016
MêsOct.
Data de Acesso10 maio 2024
Tipo de Trabalhojournal article
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho5140 KiB
2. Contextualização
Autor1 Fornari, Celso Israel
2 Rappl, Paulo Henrique de Oliveira
3 Morelhão, S. L.
4 Peixoto, T. R. F.
5 Bentmann, H.
6 Reinert, F.
7 Abramof, Eduardo
Identificador de Curriculo1
2 8JMKD3MGP5W/3C9JJ37
3
4
5
6
7 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH
Grupo1 CMS-ETES-SPG-INPE-MCTI-GOV-BR
2 LAS-CTE-INPE-MCTI-GOV-BR
3
4
5
6
7 LAS-CTE-INPE-MCTI-GOV-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
3 Universidade de São Paulo (USP)
4 Universität Würzburg
5 Universität Würzburg
6 Universität Würzburg
7 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
Endereço de e-Mail do Autor1 celso.fornari@inpe.br
2 paulo.rappl@inpe.br
3
4
5
6
7 eduardo.abramof@inpe.br
RevistaAPL Materials
Volume4
Número10
Páginas106107
Histórico (UTC)2016-11-22 18:12:54 :: simone -> administrator :: 2016
2018-06-04 02:41:21 :: administrator -> simone :: 2016
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
ResumoEx situ analyses on topological insulator films require protection against surface contamination during air exposure. This work reports on a technique that combines deposition of protective capping just after epitaxial growth and its mechanical removal inside ultra-high vacuum systems. This method was applied to Bi2Te3 films with thickness varying from 8 to 170 nm. Contrarily to other methods, this technique does not require any sputtering or thermal annealing setups installed inside the analyzing system and preserves both film thickness and surface characteristics. These results suggest that the technique presented here can be expanded to other topological insulator materials.
ÁreaFISMAT
Arranjo 1urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Preservation of pristine...
Arranjo 2urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção pgr ATUAIS > CMS > Preservation of pristine...
Conteúdo da Pasta docacessar
Conteúdo da Pasta sourcenão têm arquivos
Conteúdo da Pasta agreement
agreement.html 22/11/2016 16:12 1.0 KiB 
4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Grupo de Usuáriosself-uploading-INPE-MCTI-GOV-BR
simone
Grupo de Leitoresadministrator
simone
Visibilidadeshown
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Vinculação8JMKD3MGP7W/3DHMCJ2
Repositório Espelhourlib.net/www/2011/03.29.20.55
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
8JMKD3MGPCW/3F358GL
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.57.50 4
sid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.44.57 4
sid.inpe.br/bibdigital/2013/09.24.19.30 1
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; SCOPUS.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/mtc-m21b/2013/09.26.14.25.20
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivingpolicy archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn keywords label lineage mark nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarykey secondarymark session shorttitle sponsor subject targetfile tertiarytype url
7. Controle da descrição
e-Mail (login)simone
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